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UV-A雙通道紫外輻照計采用SMT貼片技術,選用高精度低功耗數字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
UV-A雙通道紫外輻照計主要技術指標:
探頭: | UV-420nm 探頭 | UV-365nm 探頭 |
波長范圍及峰值波長: | λ:(375~475)nm;λP=420nm | λ:(320~400)nm;λP=365nm |
紫外帶外區(qū)雜光: | UV420:小于0.02% | UV365:小于0.02% |
輻照度測量范圍: | (0.1~199.9×103) μW/cm2 | |
相對示值誤差: | ±10%(相對與NIM標準) | |
角度響應特性: | ±5%(α ≤10°) | |
線性誤差: | ±1% | |
短期不穩(wěn)定性: | ±1%(開機30min后) | |
響應時間: | 1秒 | |
使用環(huán)境: | 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH | |
尺寸和重量: | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | |
電源: | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 | |
特點:
* 光譜及角度特性經嚴格校正
* 數字液晶顯示,帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數字輸出接口(USB冗余供電)
* 低電量提醒
* 自動延時關機
* 有數字保持
* 輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
附錄:
探頭光譜響應曲線
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